Авторы: В.И. Гуревич
Испытания микропроцессорных устройств релейной защиты
В статье рассмотрены проблемы современных тестовых систем релейной защиты. Тестовые системы предназначены для проведения статических, динамических испытаний и испытаний при переходных процессах. Они позволяют симулировать практически любые встречающиеся на практике условия работы реле защиты. Несмотря на их супергибкость и широчайшие возможности, отмечается и громоздкость набора операций при испытаниях и встроенных библиотек тестовых процедур. Предложены пути решения проблем.