Исследование процесса расслоения ВТСП проводников 2-го поколения
Авторы: Д.Н. Диев

Источник: Бюллетень «Сверхпроводники в электроэнергетике / Superconductors in Electric Power Industry», том 10, выпуск 2, март 2013

Исследование процесса расслоения ВТСП проводников 2-го поколения

Одной из основных проблем при создании устройств из ВТСП проводников 2-го поколения является деградация критического тока при термоциклировании. Этот эффект в наибольшей степени проявляет себя в обмотках, пропитанных эпоксидным компаундом. В работе [1] приводятся результаты сравнительного анализа свойств пропитанных и не пропитанных обмоток. Критический ток для пропитанных обмоток после нескольких циклов охлаждения-отогрева может уменьшаться до 0,3 – 0,4 от значения критического тока короткого образца ВТСП ленты. Степень деградации критического тока обмотки коррелирует со значением поперечного усилия, возникающего в начале расслоения в одиночном ВТСП проводнике под действием радиальных механических напряжений при охлаждении обмотки до рабочей температуры. Проводник подвергается частичному расслоению из-за различия в коэффициентах температурной деформации ВТСП ленты, эпоксидного компаунда и материала каркаса, что существенным образом снижает его токонесущую способность. Необходимо отметить, что поперечные механические напряжения, приводящие к расслоению, более чем на порядок ниже предельно допустимых продольных растягивающих напряжений для ВТСП-лент...

Библиографический список:

  • H. Song, P. Brownsey, Y. Zhang, J. Waterman, T. Fukushima, D. Hazelton “2G HTS coil technology development at SuperPower”, IEEE/CSC and ESAS European superconductivity news forum, N. 22, October/November 2012.
  • D. C. van der Laan, J. W. Eckin, C. C. Clickner, T. C. Stauffer “Delamination strength of YBCO coated conductors under transverse tensile stress”, Supercond. Sci. Technol., Vol. 20 (2007), pp. 765-770.
  • H. Jeong, H. Park, S. Kim, M. Park, I. Yu, S. Lee, T. Park, K. Sim, H. S. Ha, S. S. Oh, S. H. Moon “De-lamination characteristics of coated conductor for conduction cooled HTS coil”, IEEE Transaction on applied superconductivity, Vol. 22, No. 3, June 2012.
  • Y. Zhang, J. Duvall, A. Knoll, D. Hazelton, P. Brownsey, S. Repnoy, S. Soloveichik, A. Sundaram, R. McClure, G. Majkic, V. Selvamanickam “Development of testing method for adhesion strength characterization of 2G HTS wire”, The 15th Japan – US Workshop on Advanced Superconductors, 27 – 29 October 2011, Osaka, Japan.
  • T. Myazato, M. Hojo, M. Sugano, T. Adachi, Y. Inoue, K. Shikimachi, N. Hirano, S. Nagaya “Mode I type delamination fracture toughness of YBCO coated conductor with additional Cu layer”, Physica C 471 (2011), pp. 1071 – 1074.
  • G. Nishijima, H. Kitaguchi “Transport and Mechanical Property Evaluation for Cu
  • Stabilized PLD-GdBa CuO Coated Conductor”, IEEE Transactions on applied superconductivity, Vol. 22, No. 3, June 2012
  • Y. Yanagisawa, H. Nakagome, T. Takematsu, T. Takao, N. Sato, M. Takahashi, H. Maeda “Remarkable weakness against cleavage stress for YBCO-coated conductors and its effect on the YBCO coil performance”, Physica C 471 (2011), pp. 480 – 485.