ГОСТ Р 8.698-2010 ГСИ. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

ДЕЙСТВУЕТ.

Дата введения: 01.09.2010 г.

Авторы: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума"; Федеральное государственное учреждение "Российский научный центр "Курчатовский институт"; Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова"; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)".

Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 10.02.2010 г. № 12-ст.