ГОСТ Р 8.700-2010 ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

ДЕЙСТВУЕТ.

Дата введения: 01.11.2010 г.

Авторы: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума"; Федеральное государственное учреждение "Российский научный центр "Курчатовский институт"; Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии имени А.В.Шубникова"; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)".

Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 05.04.2010 г. № 54-ст.