DD ISO TS 21749:2005. Measurement and uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments

DD ISO TS 21749:2005. Measurement and uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments

Доступ ограничен

Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического, металлургического и транспортного комплексов промышленности.

Пройдите регистрацию