Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-1М
Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-1М предназначены для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Доступ ограничен
Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического, металлургического и транспортного комплексов промышленности.
Пройдите регистрацию