1. Комплекты мер неразрушающего контроля КМ-131

   Комплект мер неразрушающего контроля КМ-131 предназначен для поверки, настройки и контроля работоспособности дефектоскопа вихретокового специализированного ВД-131 НД.

2. Аппаратура навигационная потребителей ГЛОНАСС/GPS с функцией передачи данных по GSM "M2M-Cyber GLX 01"

   Аппаратура навигационная потребителей ГЛОНАСС/GPS с функцией передачи данных по GSM "M2M-Cyber GLX 01" предназначена для измерений псевдодальности и доплеровских смещений частот по сигналам стандартной точности космической навигационной системы (КНС) ГЛОНАСС в частотном поддиапазоне L1 (от 1598,0625 до 1605,375 МГц) и КНС GPS на частоте L1 (1575,42 МГц) и определения на их основе координат и...

3. Приборы для поверки индикаторов ППИ-50

   Приборы для поверки индикаторов ППИ-50 предназначены для поверки индикаторов часового типа ИЧ, рычажно-зубчатых индикаторов ИРБ и нутромеров индикаторных НИ с ЦД 0,01мм с диапазоном измерения от 6 до 250 мм.

4. Профилометры оптические серии "TALYSURF CCI"

   Профилометры оптические серии "TALYSURF CCI" предназначены для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения от 0,3 до 100% бесконтактным методом.

5. Профилометры интерференционные компьютерные ПИК–30М

   Профилометры интерференционные компьютерные ПИК-30М предназначены для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.

6. Профилометр Alpha-Step 200

   Профилометр Alpha-Step 200 предназначен для измерения профиля поверхности в микро- и нанодиапазоне.

7. Интерферометры световолоконные автоматизированные ИСА-1

   Интерферометры световолоконные автоматизированные ИСА-1 предназначены для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.

8. Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-1М

   Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-1М предназначены для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.

9. Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-Д

   Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-Д предназначены для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.

10. Макет-калибры 01-0140 М-К

    Макет-калибры 01-0140 М-К предназначены для настройки, калибровки, поверки установок КТГС и контроля прокруточных стендов ПС при выпуске из производства и в эксплуатации.